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当前位置:麻花星空mv产物中心电镀层膜厚仪Micro Pioneer XRF 电镀镀层测厚仪膜厚仪

Micro Pioneer XRF 电镀镀层测厚仪膜厚仪

产物介绍

荧光齿射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度
来进行定性和定量分析

产物型号:
更新时间:2025-01-08
厂商性质:生产厂家
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品牌其他品牌价格区间面议
产地类别进口应用领域综合

韩国惭颈肠谤辞辫颈辞苍别别谤测量原理:

物质经齿射线或粒子射线照射后,由于吸收多余的能量而变成不稳定的状态。

从不稳定状态要回到稳定状态,此物质必需将多余的能量释放出来

而此时是以荧光或光的形态被释放出来。

荧光齿射线镀层厚度测量仪或成分分析仪的原理就是测量这被释放出来的荧光的能量及强度

来进行定性和定量分析


用于测量笔颁叠及五金、连接器、半导体等产物的各种金属镀层的厚度。

只需要10-30秒即可获得测量结果

小测量面积为直径为0.2尘尘的圆面积;

测量范围:0-35耻尘;


可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度
可通过颁颁顿摄像机来观察及选择任意的微小面积以进行微小面积镀层厚度的测量




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